ICExplorer-XTime
时序是表征数字芯片功能、性能的重要指标。为了保证芯片功能正确并达到预期性能，需要对数字电路中的时序路径进行时序分析。静态时序分析具有速度快、内存少、可穷尽等特点，它也存在着很多局限。例如，在先进工艺节点或低电压条件下，工艺偏差会呈现出非高斯分布特征，而静态时序分析技术是基于高斯分布假设构建的。这种偏差分布的不一致性，对静态时序分析技术带来了巨大挑战，导致其计算精度难以满足高精度时序分析的要求。同时，先进工艺下时序敏感性、老化等引起的时序问题对电路设计的可靠性提出了巨大挑战，而传统的静态时序分析方法无法有效的解决这些问题。
相比静态时序分析方法，时序仿真分析方法的优势逐步显现，通过对关键时序路径进行SPICE仿真不仅可以更精确的评估电路时序情况，还能快速分析电路的时序敏感性，仿真电路的老化效应等，这种分析手段不仅突破了静态时序分析方法的局限，也更加适应和符合先进工艺及低电压设计条件下的时序分析需求。
ICExplorer-XTime®为芯片设计者提供了面向先进工艺和低电压设计的高精度时序仿真分析方案，有效的解决了先进工艺和低电压设计静态时序分析方法无法准确评估时序和设计可靠性的难题。该工具提供了高精度时序仿真校验功能、电压/温度敏感性分析功能、快速工艺偏差分析功能、时钟抖动Jitter仿真分析功能、老化仿真分析功能等，为电路时序可靠性分析提供了重要支撑。
